Sys­tém ZEISS T-SCAN se sklá­dá z do­ko­na­le sla­dě­ných kom­po­nent, které uži­va­te­lům po­má­ha­jí zís­ká­vat vy­so­ce přes­ná 3D data velmi snad­ným a in­tu­i­tiv­ním způ­so­bem – a to i v těch nej­těž­ších ob­las­tech. V kom­bi­na­ci s pře­din­sta­lo­va­ným soft­warem GOM In­spect Suite, leh­kým a ruč­ním la­se­ro­vým ske­ne­rem T-SCAN, op­tic­kým sle­do­va­cím sys­té­mem T-TRACK a do­ty­ko­vou son­dou T-POINT po­sky­tu­jí vý­sled­ky mě­ře­ní pro ši­ro­kou škálu apli­ka­cí. Díky svému mo­bil­ní­mu a mo­du­lár­ní­mu kon­cep­tu na­bí­zí la­se­ro­vý ske­no­va­cí sys­tém ZEISS T-SCAN ma­xi­mál­ní pruž­nost při kon­t­ro­le dílů a ná­stro­jů přímo ve vý­ro­bě.

Zcela nový ZEISS T-TRACK 10 s mě­ři­cím ob­je­mem 10 m³, lze nyní pro di­gi­ta­li­za­ci men­ších dílů s vy­so­kou přes­nos­tí kom­bi­no­vat se ske­ne­rem T-SCAN 10. Sběr 3D dat pro ana­lý­zy, mě­ře­ní pro­ce­sů a vy­tvá­ře­ní plně di­gi­tál­ních dvoj­čat je se ske­ne­rem T-SCAN snad­ný a in­tu­i­tiv­ní. Sys­tém je vy­ba­ven pře­din­sta­lo­va­ným ssoft­warem GOM In­spect Suite, která je za­ve­de­ným stan­dar­dem v mnoha prů­mys­lo­vých od­vět­vích a pod­po­ru­je všech­ny kon­t­rol­ní úkoly od ske­no­vá­ní až po kon­t­ro­lu a pro­to­ko­lo­vá­ní.
Více o práci se ske­ne­rem ZEISS T-SCAN 10 na­jde­te na www.handsonmetrology.com.