1. FARO CREAFORM nabízí kompatibilitu s ručními 3D skenery a kontrolu odlitků CAM2
(Matching tags: FARO CREAFORM,CAM2,GD&T,Kvalita,Kontrola odlitků)

FARO CRE­A­FORM ozná­mil 16. září uve­de­ní no­vých vy­lep­še­ní pro kon­t­ro­lu od­lit­ků v rámci své soft­wa­ro­vé plat­for­my CAM2. Nej­no­věj­ší verze, na­vr­že­ná jako kon­t­rol­ní ná­stroj za­lo­že­ný ...

2. MetraSCAN BLACK2 zvyšuje flexibilitu při rozměrové kontrole přímo ve výrobě
(Matching tags: MetraSCAN,BLACK2,FARO CREAFORM,3D kontrolaVýroba,Pracovní postupy,Kvalita)

FARO CREA­FORM, glo­bál­ní do­da­va­tel ře­še­ní pro 3D ske­no­vá­ní a pře­nos­né sou­řad­ni­co­vé mě­ři­cí stro­je (CMM), ozna­mu­je uve­de­ní na trh za­ří­ze­ní Me­tra­SCAN BLACK2, pře­nos­né­ho ...

3. FARO CREAFORM rozšiřuje portfolio zařízení HandySCAN 3D
(Matching tags: EVO,3D skenování,HandySCAN,FARO CREAFORM,EVO Plus)

FARO CRE­A­FORM, di­vi­ze AME­TE­Ku a glo­bál­ní do­da­va­tel ře­še­ní pro 3D ske­no­vá­ní a pře­nos­né sou­řad­ni­co­vé mě­ři­cí stro­je (CMM), ozna­mu­je roz­ší­ře­ní řady Han­dy­SCAN 3D o nové ...

4. FARO CREAFORM zkracuje dobu potřebnou k získání dat z laserové sondy na náročných površích
(Matching tags: CAD,3D skenování,CMM,FARO CREAFORM,DTEX,LLP)

FARO CRE­A­FORM, dce­ři­ná spo­leč­nost AME­TE­Ku a glo­bál­ní do­da­va­tel ře­še­ní pro 3D ske­no­vá­ní a pře­nos­né sou­řad­ni­co­vé mě­ři­cí stro­je (CMM), ozná­mil 14. dubna ak­tu­a­li­za­ci ...

5. Integrace sběru dat 3D skeneru FARO CREAFORM do PolyWorks|Inspector
(Matching tags: Faro,Partnerství,InnovMetric,3D skenery,FARO CREAFORM,PolyWorks|Inspector)

FARO CREA­FORM ozná­mil 5. břez­na, že sběr dat z au­to­ma­tic­ky re­fe­renč­ních ví­ce­řád­ko­vých 3D ske­ne­rů FARO CREA­FORM je nyní plně in­te­gro­ván do Po­ly­Works|In­spec­tor od Innov­Met­ric. ...

6. FARO a Creaform se spojují a vytvářejí dvě nové obchodní jednotky
(Matching tags: FARO INSIGHT,FARO CREAFORM,Geoinformatika,Měření,Výroba,Stavebnictví)

FARO Tech­no­lo­gies a Cre­a­form, spo­leč­nos­ti pa­t­ří­cí do sku­pi­ny AME­TEK, ozna­mu­jí vý­znam­nou novou ka­pi­to­lu ve svém vý­vo­ji, která změní pří­stup prů­mys­lo­vých od­vět­ví k me­t­ro­lo­gii ...